閉口閃點(diǎn)測(cè)定儀BS-100型采用高性能微處理器，電擦除存儲(chǔ)器，高精度A/D轉(zhuǎn)換器，大屏幕液晶顯示器及抗干擾自動(dòng)恢復(fù)，PID自整定等多項(xiàng)技術(shù)。
查看詳細(xì)介紹
BBK-8型全自動(dòng)開口閃點(diǎn)燃點(diǎn)測(cè)定儀采用高性能微處理器，電擦除存儲(chǔ)器，高精度A/D轉(zhuǎn)換器，大屏幕液晶顯示器及抗干擾自動(dòng)恢復(fù)，PID自整定等多項(xiàng)技術(shù)。
查看詳細(xì)介紹
BBK-600型開口閃點(diǎn)全自動(dòng)測(cè)定儀采用高性能微處理器，電擦除存儲(chǔ)器，高精度A/D轉(zhuǎn)換器，大屏幕液晶顯示器及抗干擾自動(dòng)恢復(fù)，PID自整定等多項(xiàng)技術(shù)。
查看詳細(xì)介紹
BBK-800閉口閃點(diǎn)測(cè)定儀采用高性能微處理器，電擦除存儲(chǔ)器，高精度A/D轉(zhuǎn)換器，大屏幕液晶顯示器及抗干擾自動(dòng)恢復(fù)，PID自整定等多項(xiàng)技術(shù)。
查看詳細(xì)介紹
BBK-800型閉口閃點(diǎn)測(cè)定儀采用高性能微處理器，電擦除存儲(chǔ)器，高精度A/D轉(zhuǎn)換器，大屏幕液晶顯示器及抗干擾自動(dòng)恢復(fù)，PID自整定等多項(xiàng)技術(shù)。
查看詳細(xì)介紹
BBSK-800型開口閃點(diǎn)儀采用高性能微處理器，電擦除存儲(chǔ)器，高精度A/D轉(zhuǎn)換器，大屏幕液晶顯示器及抗干擾自動(dòng)恢復(fù)，PID自整定等多項(xiàng)技術(shù)。
查看詳細(xì)介紹
TP612全自動(dòng)開口閃點(diǎn)測(cè)定儀采用高性能微處理器，電擦除存儲(chǔ)器，高精度A/D轉(zhuǎn)換器，大屏幕液晶顯示器及抗干擾自動(dòng)恢復(fù)，PID自整定等多項(xiàng)技術(shù)。
查看詳細(xì)介紹
BS-2000型開口閃點(diǎn)全自動(dòng)測(cè)定儀采用模塊化設(shè)計(jì)，一臺(tái)主機(jī)可同時(shí)控制多個(gè)測(cè)試爐，可同時(shí)或分時(shí)測(cè)試不同的樣品； u *的無(wú)序接入功能，測(cè)試爐接口可不分序號(hào)任意連接至主機(jī)，主機(jī)自動(dòng)識(shí)別接入的測(cè)試爐號(hào)。
查看詳細(xì)介紹
全自動(dòng)開閉口閃點(diǎn)綜合測(cè)試儀*采用模塊化設(shè)計(jì)，一臺(tái)主機(jī)可同時(shí)控制多個(gè)測(cè)試爐，可同時(shí)或分時(shí)測(cè)試不同的樣品； u *的無(wú)序接入功能，測(cè)試爐接口可不分序號(hào)任意連接至主機(jī)，主機(jī)自動(dòng)識(shí)別接入的測(cè)試爐號(hào)。
查看詳細(xì)介紹
BKS全自動(dòng)閉口閃點(diǎn)儀變壓器測(cè)試儀采用模塊化設(shè)計(jì)，一臺(tái)主機(jī)可同時(shí)控制多個(gè)測(cè)試爐，可同時(shí)或分時(shí)測(cè)試不同的樣品； u *的無(wú)序接入功能，測(cè)試爐接口可不分序號(hào)任意連接至主機(jī)，主機(jī)自動(dòng)識(shí)別接入的測(cè)試爐號(hào)。
查看詳細(xì)介紹
批發(fā)價(jià)BKS全自動(dòng)閉口閃點(diǎn)測(cè)試儀采用模塊化設(shè)計(jì)，一臺(tái)主機(jī)可同時(shí)控制多個(gè)測(cè)試爐，可同時(shí)或分時(shí)測(cè)試不同的樣品； u *的無(wú)序接入功能，測(cè)試爐接口可不分序號(hào)任意連接至主機(jī)，主機(jī)自動(dòng)識(shí)別接入的測(cè)試爐號(hào)。
查看詳細(xì)介紹
全自動(dòng)閉口閃點(diǎn)測(cè)定儀上海價(jià)格采用模塊化設(shè)計(jì)，一臺(tái)主機(jī)可同時(shí)控制多個(gè)測(cè)試爐，可同時(shí)或分時(shí)測(cè)試不同的樣品； u *的無(wú)序接入功能，測(cè)試爐接口可不分序號(hào)任意連接至主機(jī)，主機(jī)自動(dòng)識(shí)別接入的測(cè)試爐號(hào)。
查看詳細(xì)介紹
在線客服